汎銓科技（MSS）又有新的設備投資，此次引進法國CAMECA公司的SIMS先進二次離子質譜儀，為材料表面分析（SA）的利器，可透過濺射、蝕刻技術，精準分析半導體板材中的各種元素成分，對於半導體及光電業發展次世代製程採用新材料，提供有力奧援。
　　汎銓董事長柳紀綸表示，驗證分析產業MA、FA、SA、RA，其中可靠度分析（RA）以產品驗證為主，市場量雖大，但技術門檻不及材料分析（MA）及故障分析（FA）。汎銓專攻半導體先進製程的MA及FA，分析技術能力可對應5奈米以下製程，加入材料表面分析（SA）服務，戰力更為提升，將進一步帶動營收成長。

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